• 计算机科学与工程教授
  • 工程学院研究生副院长bob官方体育appios
邓肯·M·汉克·沃克

学历

  • 卡内基梅隆大学计算机科学博士,1986年
  • 卡内基梅隆大学计算机科学硕士,1984年
  • 加州理工学院工程学士(荣誉),1979年

研究兴趣

    • 集成电路测试
    • 基于缺陷的测试
    • 延迟试验
    • IDDQ试验
    • 故障诊断
    • 真实断层建模
    • 参数和功能产量预测

奖项和荣誉

  • ACM杰出科学家,2014年
  • 查尔斯·W·克劳福德服务奖,2009-2010
  • E.D.布罗克特教授职位,2007-2008
  • 洛克希德·马丁航空公司2006年工程教学优秀奖
  • 德克萨斯A&M大学工程学院院士,德克萨斯Abob官方体育appios&M,2006-2007
  • 2002-2003年,德bob官方体育appios州农工大学工程学院AMD研究员
  • 德克萨斯A&M工程学院TEbob官方体育appiosES研究员,1998-1999年

精选出版物

  • Z.Wang和D.M.H.Walker,“具有实际低成本故障覆盖度量的紧凑延迟测试生成”,IEEE VLSI测试研讨会,加利福尼亚州圣克鲁斯,2009年5月。
  • Z.Wang和D.M.H.Walker,“高质量延迟测试的强夯”,IEEE VLSI测试研讨会,加利福尼亚州Rancho Bernardo,2008年5月,论文8.1。
  • S.Sabade和D.M.H.Walker,“使用晶圆级空间信息估计无故障泄漏”,《超大规模集成电路系统IEEE交易》,第14卷,第1期,2006年1月,第91-94页。
  • 吕晓明,李子莉,邱文华,沃克,施文华,“过程变化下延迟测试的最长路径选择”,IEEE计算机辅助设计学报,第24卷,第12期,2005年12月,第1924-1929页。